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表面・界面の分析と評価

平木昭夫,成沢忠共著. -- オーム社, 1994.9. -- (応用物理学シリーズ / 応用物理学会編 ; 専門コース). <BW00407008>
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平木昭夫,成沢忠共著. -- オーム社, 1994.9. -- (応用物理学シリーズ / 応用物理学会編 ; 専門コース). <BW00407008>
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No. 巻号 配架場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 三田４Ｆ図書 539.2:140 0001343318 0件
No. 0001
巻号
配架場所 三田４Ｆ図書
請求記号 539.2:140
資料ID 0001343318
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 表面・界面の分析と評価 / 平木昭夫,成沢忠共著
ヒョウメン カイメン ノ ブンセキ ト ヒョウカ
出版事項 東京 : オーム社 , 1994.9
形態 ix, 141p ; 22cm
シリーズ名等 応用物理学シリーズ / 応用物理学会編||オウヨウ ブツリガク シリーズ <BW02006088> 専門コース//a
巻号情報
ISBN 4274129764
NCID BN11291090
本文言語 日本語
著者標目 平木, 昭夫||ヒラキ, アキオ <AU00118882>
著者標目 成沢, 忠||ナルサワ, タダシ <AU00145790>
分類標目 物性物理学 NDC8:428.8
分類標目 NDC7:428.85
件名標目等 半導体||ハンドウタイ
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