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シリコンの物性と評価法

小間篤 [ほか] 共著. -- 丸善, 1987.7. -- (電子材料シリーズ). <BW00111006>
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シリコンの物性と評価法

小間篤 [ほか] 共著. -- 丸善, 1987.7. -- (電子材料シリーズ). <BW00111006>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 配架場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 上ケ原館外書庫図書 624.9:146 0096973904 0件
No. 0001
巻号
配架場所 上ケ原館外書庫図書
請求記号 624.9:146
資料ID 0096973904
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 シリコンの物性と評価法 / 小間篤 [ほか] 共著
シリコン ノ ブッセイ ト ヒョウカホウ
出版事項 東京 : 丸善 , 1987.7
形態 x, 251p ; 22cm
シリーズ名等 電子材料シリーズ||デンシ ザイリョウ シリーズ <BW03461832>//a
巻号情報
ISBN 4621031856
注記 文献: 章末
注記 参考書: p[243]〜244
注記 その他の共著者: 白木靖寛, 齋木幸一郎, 飯田厚夫
NCID BN01165985
本文言語 日本語
著者標目 小間, 篤||コマ, アツシ <AU00041805>
分類標目 電子工学 NDC8:549.8
分類標目 科学技術 NDLC:ND371
件名標目等 シリコン||シリコン
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