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電子線マイクロアナリシス : 走査電子顕微鏡,X線マイクロアナライザ分析法

副島啓義著. -- 日刊工業新聞社, 1987.2. <BW00109794>
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副島啓義著. -- 日刊工業新聞社, 1987.2. <BW00109794>
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No. 巻号 配架場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 三田４Ｆ集密図書 543:125 0096874268 0件
No. 0001
巻号
配架場所 三田４Ｆ集密図書
請求記号 543:125
資料ID 0096874268
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 電子線マイクロアナリシス : 走査電子顕微鏡,X線マイクロアナライザ分析法 / 副島啓義著
デンシセン マイクロ アナリシス : ソウサ デンシ ケンビキョウ Xセン マイクロ アナライザ ブンセキホウ
出版事項 東京 : 日刊工業新聞社 , 1987.2
形態 x,597,5p ; 27cm
巻号情報
ISBN 4526021008
注記 引用・参考文献:p.592-597
NCID BN00749109
本文言語 日本語
著者標目 副島, 啓義(1939-)||ソエジマ, ヒロヨシ <AU00329948>
分類標目 分析化学 NDC8:433.5
分類標目 科学技術 NDLC:PA124
件名標目等 光学分析||コウガクブンセキ
件名標目等 エックス線分光分析||エックスセンブンコウブンセキ
件名標目等 エックス線分光分析||エックスセンブンコウブンセキ
件名標目等 微量分析||ビリョウブンセキ
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