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論理とテスト

樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]. -- 岩波書店, 1985.5. -- (岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2). <BW00103546>
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論理とテスト

樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]. -- 岩波書店, 1985.5. -- (岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2). <BW00103546>
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所蔵一覧 1件～2件（全2件）

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No. 巻号 配架場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 三田４Ｆ図書 510.78:I.96i:4 0097012470 0件
0002 上ケ原館外書庫図書 510.78:593:4 0096322185 0件
No. 0001
巻号
配架場所 三田４Ｆ図書
請求記号 510.78:I.96i:4
資料ID 0097012470
状態
返却予定日
予約 0件
No. 0002
巻号
配架場所 上ケ原館外書庫図書
請求記号 510.78:593:4
資料ID 0096322185
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 論理とテスト / 樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]
ロンリ ト テスト
出版事項 東京 : 岩波書店 , 1985.5
形態 x, 313p ; 22cm
シリーズ名等 岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編||イワナミ コウザ マイクロ エレクトロニクス <BW02001425> 4 . VLSIの設計||VLSI ノ セッケイ ; 2//bb
巻号情報
ISBN 4000101846
注記 参考書: p303-305
NCID BN00059257
本文言語 日本語
著者標目 樹下, 行三(1936-)||キノシタ, コウゾウ <AU00000778>
著者標目 浅田, 邦博(1952-)||アサダ, クニヒロ <AU00236472>
著者標目 唐津, 修(1947-)||カラツ, オサム <AU00278548>
分類標目 電子工学 NDC8:549
分類標目 電子工学 NDC8:549.08
分類標目 NDC7:549.92
分類標目 科学技術 NDLC:ND351
分類標目 科学技術 NDLC:ND386
件名標目等 集積回路||シュウセキカイロ
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