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最新フォトレジスト材料開発とプロセス最適化技術
河合晃監修. -- 普及版. -- シーエムシー出版, 2024.8. -- (CMCテクニカルライブラリー ; 840 . エレクトロニクスシリーズ). <BW04320015>
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最新フォトレジスト材料開発とプロセス最適化技術
河合晃監修. -- 普及版. -- シーエムシー出版, 2024.8. -- (CMCテクニカルライブラリー ; 840 . エレクトロニクスシリーズ). <BW04320015>
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所蔵一覧
1件~1件(全1件)
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10件
20件
50件
100件
No.
巻号
配架場所
請求記号
資料ID
状態
返却予定日
予約
0001
三田4F図書
624.9:2145
0075717967
0件
No.
0001
巻号
配架場所
三田4F図書
請求記号
624.9:2145
資料ID
0075717967
状態
返却予定日
予約
0件
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書誌詳細
標題および責任表示
最新フォトレジスト材料開発とプロセス最適化技術 / 河合晃監修
サイシン フォトレジスト ザイリョウ カイハツ ト プロセス サイテキカ ギジュツ
版次
普及版
出版事項
東京 : シーエムシー出版 , 2024.8
形態
viii, 320p : 挿図 ; 26cm
シリーズ名等
CMCテクニカルライブラリー||CMC テクニカル ライブラリー <BW03006314> 840 . エレクトロニクスシリーズ||エレクトロニクス シリーズ//a
巻号情報
ISBN
9784781317748
その他の標題
標題紙タイトル:Advanced technologies for functional resist materials and process optimization
注記
2017年刊の普及版
注記
文献: 章末
注記
背に「TL840」とあり
注記
奥付・背・裏表紙に「B1438」とあり
NCID
BD08208554
本文言語
日本語
著者標目
河合, 晃||カワイ, アキラ <AU00476582>
分類標目
電子工学 NDC9:549.7
分類標目
電子工学 NDC10:549.7
件名標目等
リソグラフィー||リソグラフィー
件名標目等
感光性樹脂||カンコウセイ ジュシ
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