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何のためのテスト? : 評価で変わる学校と学び

ケネス・J.ガーゲン, シェルト・R.ギル著 ; 東村知子, 鮫島輝美訳. -- ナカニシヤ出版, 2023.3. <BW04260260>
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何のためのテスト? : 評価で変わる学校と学び

ケネス・J.ガーゲン, シェルト・R.ギル著 ; 東村知子, 鮫島輝美訳. -- ナカニシヤ出版, 2023.3. <BW04260260>
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No. 巻号 配架場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 聖和３Ｆ図書 371.3:3776 0075490748 0件
No. 0001
巻号
配架場所 聖和３Ｆ図書
請求記号 371.3:3776
資料ID 0075490748
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 何のためのテスト? : 評価で変わる学校と学び / ケネス・J.ガーゲン, シェルト・R.ギル著 ; 東村知子, 鮫島輝美訳
ナンノ タメ ノ テスト : ヒョウカ デ カワル ガッコウ ト マナビ
出版事項 京都 : ナカニシヤ出版 , 2023.3
形態 viii, 223p ; 21cm
巻号情報
ISBN 9784779517044
その他の標題 原タイトル:Beyond the tyranny of testing : relational evaluation in education
NCID BD00745593
本文言語 日本語
著者標目 Gergen, Kenneth J. <AU00035892>
著者標目 Gill, Scherto R <>
著者標目 東村, 知子||ヒガシムラ, トモコ <AU00305601>
著者標目 鮫島, 輝美||サメシマ, テルミ <AU00433020>
分類標目 教育学．教育思想 NDC9:371.7
分類標目 教育学．教育思想 NDC10:371.7
分類標目 教育 NDLC:FC63
件名標目等 教育評価||キョウイクヒョウカ
件名標目等 教育評価||キョウイクヒョウカ
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