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テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える
光永悠彦編著 ; 西田亜希子著. -- ナカニシヤ出版, 2022.9. <BW04238949>
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テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える
光永悠彦編著 ; 西田亜希子著. -- ナカニシヤ出版, 2022.9. <BW04238949>
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所蔵一覧
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10件
20件
50件
100件
No.
巻号
配架場所
請求記号
資料ID
状態
返却予定日
予約
0001
上ケ原2F図書
370.9:3038
0075439356
0件
No.
0001
巻号
配架場所
上ケ原2F図書
請求記号
370.9:3038
資料ID
0075439356
状態
返却予定日
予約
0件
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書誌詳細
標題および責任表示
テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える / 光永悠彦編著 ; 西田亜希子著
テスト ワ ナンノ タメ ニ アル ノカ : コウモク ハンノウ リロン カラ ニュウシ セイド オ カンガエル
出版事項
京都 : ナカニシヤ出版 , 2022.9
形態
ix, 239p : 挿図 ; 26cm
巻号情報
ISBN
9784779516832
その他の標題
裏表紙タイトル:Item response theory
その他の標題
標題紙タイトル:test
注記
参考文献: p233-237
注記
事項索引: p238
注記
人名索引: p.239
NCID
BC17143066
本文言語
日本語
著者標目
光永, 悠彦(1979-)||ミツナガ, ハルヒコ <AU00424677>
著者標目
西田, 亜希子(1976-)||ニシダ, アキコ <AU00466470>
分類標目
教育学.教育思想 NDC9:371.7
分類標目
幼児・初等・中等教育 NDC9:376.8
分類標目
幼児・初等・中等教育 NDC10:376.87
件名標目等
教育測定||キョウイクソクテイ
件名標目等
試験 (教育)||シケン(キョウイク)
件名標目等
入学試験(大学)||ニュウガク シケン(ダイガク)
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光永, 悠彦(1979-)
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幼児・初等・中等教育 NDC9:376.8
幼児・初等・中等教育 NDC10:376.87
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