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半導体デバイスの不良・故障解析技術

二川清編著 ; 上田修, 山本秀和著. -- 日科技連出版社, 2019.12. -- (信頼性技術叢書). <BW04044629>
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二川清編著 ; 上田修, 山本秀和著. -- 日科技連出版社, 2019.12. -- (信頼性技術叢書). <BW04044629>
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No. 巻号 配架場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 三田４Ｆ図書 624.9:2033 0074971193 0件
No. 0001
巻号
配架場所 三田４Ｆ図書
請求記号 624.9:2033
資料ID 0074971193
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 半導体デバイスの不良・故障解析技術 / 二川清編著 ; 上田修, 山本秀和著
ハンドウタイ デバイス ノ フリョウ コショウ カイセキ ギジュツ
出版事項 東京 : 日科技連出版社 , 2019.12
形態 viii, 218p, 図版 [2]p : 挿図 ; 21cm
シリーズ名等 信頼性技術叢書||シンライセイ ギジュツ ソウショ <BW03416158>//a
巻号情報
ISBN 9784817196859
注記 参考文献: 章末
NCID BB29632856
本文言語 日本語
著者標目 二川, 清(1949-)||ニカワ, キヨシ <AU00325054>
著者標目 上田, 修
ウエダ, オサム <>
著者標目 山本, 秀和||ヤマモト, ヒデカズ <AU00377368>
分類標目 電子工学 NDC8:549.8
分類標目 電子工学 NDC9:549.8
分類標目 電子工学 NDC10:549.8
件名標目等 半導体||ハンドウタイ
件名標目等 信頼性(工学)||シンライセイ(コウガク)
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