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光・電子・イオンビームによる表面ナノ構造解析

城戸義明著. -- 三恵社, 2017.8. <BW03937252>
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光・電子・イオンビームによる表面ナノ構造解析

城戸義明著. -- 三恵社, 2017.8. <BW03937252>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 配架場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 三田４Ｆ図書 539.2:386 0074604521 0件
No. 0001
巻号
配架場所 三田４Ｆ図書
請求記号 539.2:386
資料ID 0074604521
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 光・電子・イオンビームによる表面ナノ構造解析 / 城戸義明著
ヒカリ デンシ イオン ビーム ニ ヨル ヒョウメン ナノ コウゾウ カイセキ
出版事項 名古屋 : 三恵社 , 2017.8
形態 541p ; 27cm
巻号情報
ISBN 9784864877343
その他の標題 背表紙タイトル:光・電子・イオンビームによる表面ナノ構造解析 = Surface Nano-structures analysis by photon, electron and ion beams
ヒカリ デンシ イオン ビーム ニ ヨル ヒョウメン ナノ コウゾウ カイセキ
注記 書名は奥付による
NCID BB24657474
本文言語 日本語
著者標目 城戸, 義明
キド, ヨシアキ <>
分類標目 物性物理学 NDC8:428.4
分類標目 物性物理学 NDC9:428.4
件名標目等 表面(工学)||ヒョウメン(コウガク)
件名標目等 電子分光分析||デンシブンコウブンセキ
件名標目等 電子回折||デンシカイセツ
件名標目等 イオンビーム||イオンビーム
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