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SiC/GaNパワー半導体の実装と信頼性評価技術
菅沼克昭編著. -- 日刊工業新聞社, 2014.12. <BW03797073>
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SiC/GaNパワー半導体の実装と信頼性評価技術
菅沼克昭編著. -- 日刊工業新聞社, 2014.12. <BW03797073>
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所蔵一覧
1件~1件(全1件)
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10件
20件
50件
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No.
巻号
配架場所
請求記号
資料ID
状態
返却予定日
予約
0001
三田4F図書
624.9:1867
0074148115
貸出中
2025/9/29
0件
No.
0001
巻号
配架場所
三田4F図書
請求記号
624.9:1867
資料ID
0074148115
状態
貸出中
返却予定日
2025/9/29
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書誌詳細
標題および責任表示
SiC/GaNパワー半導体の実装と信頼性評価技術 / 菅沼克昭編著
SiC/GaN パワー ハンドウタイ ノ ジッソウ ト シンライセイ ヒョウカ ギジュツ
出版事項
東京 : 日刊工業新聞社 , 2014.12
形態
247p ; 21cm
巻号情報
ISBN
9784526073397
その他の標題
標題紙タイトル:power semiconductor devices
注記
参考文献: 各章末
NCID
BB17632156
本文言語
日本語
著者標目
菅沼, 克昭||スガヌマ, カツアキ <AU00226130>
分類標目
電子工学 NDC8:549.8
分類標目
電子工学 NDC9:549.8
件名標目等
半導体||ハンドウタイ
件名標目等
パワーエレクトロニクス||パワーエレクトロニクス
件名標目等
信頼性(工学)||シンライセイ(コウガク)
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菅沼, 克昭
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