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半導体部品の信頼性 : 高信頼化の歴史とフィールドデータ

荒井英輔, 塩野登編著 ; 岩根眼藏 [ほか] 著. -- 丸善プラネット, 2013.8. <BW03722422>
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荒井英輔, 塩野登編著 ; 岩根眼藏 [ほか] 著. -- 丸善プラネット, 2013.8. <BW03722422>
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No. 巻号 配架場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 三田４Ｆ図書 624.9:1804 0073914509 0件
No. 0001
巻号
配架場所 三田４Ｆ図書
請求記号 624.9:1804
資料ID 0073914509
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 半導体部品の信頼性 : 高信頼化の歴史とフィールドデータ / 荒井英輔, 塩野登編著 ; 岩根眼藏 [ほか] 著
ハンドウタイ ブヒン ノ シンライセイ : コウシンライカ ノ レキシ ト フィールド データ
出版事項 東京 : 丸善プラネット , 2013.8
形態 viii, 344p : 挿図 ; 30 cm
巻号情報
ISBN 9784863451728
注記 その他の著者: 中野好典, 植木武美, 平岡一則, 小川清, 福田光男, 久慈憲夫, 水沢武, 嶋屋正一, 山口力
NCID BB13216182
本文言語 日本語
著者標目 荒井, 英輔||アライ, エイスケ <AU00392521>
著者標目 塩野, 登(1947-)||シオノ, ノボル <AU00392520>
著者標目 岩根, 眼藏
イワネ, ガンゾウ <>
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