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Applied logistic regression

David W. Hosmer, Jr., Stanley Lemeshow, Rodney X. Sturdivant. -- : [hardcover]. -- 3rd ed. -- Wiley, c2013. -- (Wiley series in probability and mathematical statistics). <BY03715183>
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David W. Hosmer, Jr., Stanley Lemeshow, Rodney X. Sturdivant. -- : [hardcover]. -- 3rd ed. -- Wiley, c2013. -- (Wiley series in probability and mathematical statistics). <BY03715183>
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No. 巻号 配架場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 : [hardcover] 上ケ原２Ｆ図書 311:927(3) 0005477773 0件
No. 0001
巻号 : [hardcover]
配架場所 上ケ原２Ｆ図書
請求記号 311:927(3)
資料ID 0005477773
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Applied logistic regression / David W. Hosmer, Jr., Stanley Lemeshow, Rodney X. Sturdivant
版次 3rd ed
出版事項 Hoboken, N.J. : Wiley , c2013
形態 xvi, 500 p. : ill. ; 25 cm
シリーズ名等 Wiley series in probability and mathematical statistics <BY02000044>//a
巻号情報
巻次等 : [hardcover]
ISBN 9780470582473
注記 Series statement on cover: Wiley series in probability and statistics
注記 Includes bibliographical references (p. 459-478) and index
NCID BB12413927
本文言語 英語
著者標目 *Hosmer, David W. <AU00091769>
著者標目 Lemeshow, Stanley <AU00091770>
著者標目 Sturdivant, Rodney X. <>
分類標目 DC23:519.536
件名標目等 Regression analysis
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