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はじめてのデバイス評価技術

二川清著. -- 第2版. -- 森北出版, 2012.9. <BW03655626>
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はじめてのデバイス評価技術

二川清著. -- 第2版. -- 森北出版, 2012.9. <BW03655626>
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No. 巻号 配架場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 三田４Ｆ図書 624.9:1744 0073705055 0件
No. 0001
巻号
配架場所 三田４Ｆ図書
請求記号 624.9:1744
資料ID 0073705055
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 はじめてのデバイス評価技術 / 二川清著
ハジメテ ノ デバイス ヒョウカ ギジュツ
版次 第2版
出版事項 東京 : 森北出版 , 2012.9
形態 xi, 179p : 挿図 ; 22cm
巻号情報
ISBN 9784627774421
注記 初版: 工業調査会, 2000年刊
注記 参考文献・引用文献: p169-175
NCID BB10206954
本文言語 日本語
著者標目 二川, 清(1949-)||ニカワ, キヨシ <AU00325054>
分類標目 電子工学 NDC8:549.8
分類標目 電子工学 NDC9:549.8
件名標目等 半導体||ハンドウタイ
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