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LSIの信頼性

二川清編著 ; 塩野登 [ほか] 著. -- 日科技連出版社, 2010.10. -- (信頼性技術叢書). <BW03541768>
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二川清編著 ; 塩野登 [ほか] 著. -- 日科技連出版社, 2010.10. -- (信頼性技術叢書). <BW03541768>
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No. 巻号 配架場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 三田４Ｆ図書 624.9:1638 0073389694 0件
No. 0001
巻号
配架場所 三田４Ｆ図書
請求記号 624.9:1638
資料ID 0073389694
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 LSIの信頼性 / 二川清編著 ; 塩野登 [ほか] 著
LSI ノ シンライセイ
出版事項 東京 : 日科技連出版社 , 2010.10
形態 viii, 183p, 図版 [2] p : 挿図 ; 21cm
シリーズ名等 信頼性技術叢書||シンライセイ ギジュツ ソウショ <BW03416158>//a
巻号情報
ISBN 9784817193636
その他の標題 異なりアクセスタイトル:LSIの信頼性
エルエスアイ ノ シンライセイ
注記 その他の著者: 横川慎二, 福田保裕, 三井泰裕
注記 監修者: 信頼性技術叢書編集委員会
注記 参考文献: 章末
NCID BB03841227
本文言語 日本語
著者標目 二川, 清(1949-)||ニカワ, キヨシ <AU00325054>
著者標目 塩野, 登(1947-)
シオノ, ノボル <>
著者標目 横川, 慎二(1970-)||ヨコガワ, シンジ <AU00363145>
著者標目 福田, 保裕(1953-)
フクダ, ヤスヒロ <>
著者標目 三井, 泰裕(1944-)
ミツイ, ヤスヒロ <>
著者標目 信頼性技術叢書編集委員会
シンライセイ ギジュツ ソウショ ヘンシュウ イインカイ <>
分類標目 電子工学 NDC8:549.7
分類標目 電子工学 NDC9:549.7
件名標目等 集積回路||シュウセキカイロ
件名標目等 信頼性(工学)||シンライセイ(コウガク)
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