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LSI故障解析技術のすべて : 開発促進・歩留向上・信頼性向上のキーテクノロジー

二川清著. -- 工業調査会, 2007.11. <BW03354478>
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二川清著. -- 工業調査会, 2007.11. <BW03354478>
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No. 巻号 配架場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 三田４Ｆ図書 624.9:1429 0072800238 0件
No. 0001
巻号
配架場所 三田４Ｆ図書
請求記号 624.9:1429
資料ID 0072800238
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 LSI故障解析技術のすべて : 開発促進・歩留向上・信頼性向上のキーテクノロジー / 二川清著
LSI コショウ カイセキ ギジュツ ノ スベテ : カイハツ ソクシン ブドマリ コウジョウ シンライセイ コウジョウ ノ キー テクノロジー
出版事項 東京 : 工業調査会 , 2007.11
形態 221p ; 22cm
巻号情報
ISBN 9784769312697
その他の標題 異なりアクセスタイトル:LSI故障解析技術のすべて
エルエスアイ コショウ カイセキ ギジュツ ノ スベテ
その他の標題 標題紙タイトル:LSI failure analysis
注記 文献: p[205]-214
NCID BA84153482
本文言語 日本語
著者標目 二川, 清(1949-)||ニカワ, キヨシ <AU00325054>
分類標目 電子工学 NDC8:549.7
分類標目 電子工学 NDC9:549.7
件名標目等 集積回路||シュウセキカイロ
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