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残留応力のX線評価 : 基礎と応用

田中啓介, 鈴木賢治, 秋庭義明共著. -- 養賢堂, 2006.7. <BW03287651>
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残留応力のX線評価 : 基礎と応用

田中啓介, 鈴木賢治, 秋庭義明共著. -- 養賢堂, 2006.7. <BW03287651>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 配架場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 三田４Ｆ図書 620.1:429 0072588130 0件
No. 0001
巻号
配架場所 三田４Ｆ図書
請求記号 620.1:429
資料ID 0072588130
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 残留応力のX線評価 : 基礎と応用 / 田中啓介, 鈴木賢治, 秋庭義明共著
ザンリュウ オウリョク ノ エックスセン ヒョウカ
出版事項 東京 : 養賢堂 , 2006.7
形態 vii, 363p ; 21cm
巻号情報
ISBN 484250384X
注記 参考文献: 各章末
NCID BA77874054
本文言語 日本語
著者標目 田中, 啓介(1943-)||タナカ, ケイスケ <AU00298599>
著者標目 鈴木, 賢治(1958-)||スズキ, ケンジ <AU00282855>
著者標目 秋庭, 義明(1959-)||アキニワ, ヨシアキ <AU00298600>
分類標目 工業基礎学 NDC9:501.32
件名標目等 応力||オウリョク
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