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Semiconductor material and device characterization

Dieter K. Schroder. -- 3rd ed. -- IEEE Press. <BY03265121>
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No. 巻号 配架場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 三田４Ｆ図書 624.9:1330 0004071718 貸出中 2024/10/8 0件
No. 0001
巻号
配架場所 三田４Ｆ図書
請求記号 624.9:1330
資料ID 0004071718
状態 貸出中
返却予定日 2024/10/8
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder
版次 3rd ed
出版事項 [S.l.] : IEEE Press
出版事項 Hoboken, N.J. : Wiley-Interscience , c2006
形態 xv, 779 p. : ill. ; 25 cm
巻号情報
ISBN 9780471739067
注記 Includes bibliographical references and index
NCID BA76086798
本文言語 英語
著者標目 *Schroder, Dieter K. <AU00290602>
分類標目 LCC:QC611
分類標目 DC21:621.3815/2
分類標目 科学技術 NDLC:MC151
件名標目等 Semiconductors
件名標目等 Semiconductors -- Testing
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