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Applied scanning probe methods

Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Sumio Hosaka [eds.]. -- Springer, c2004. -- (Nanoscience and technology). <BY03265113>
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Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Sumio Hosaka [eds.]. -- Springer, c2004. -- (Nanoscience and technology). <BY03265113>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 配架場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 三田４Ｆ図書 578:35:1 0004071635 0件
No. 0001
巻号
配架場所 三田４Ｆ図書
請求記号 578:35:1
資料ID 0004071635
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Applied scanning probe methods / Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Sumio Hosaka [eds.]
出版事項 Berlin ; New York : Springer , c2004
形態 xx, 476 p. : ill. ; 24 cm
シリーズ名等 Nanoscience and technology <BY03163891>//a
巻号情報
ISBN 3540005277
注記 Includes bibliographical references and index
NCID BA65708590
本文言語 英語
著者標目 Bhushan, Bharat, 1949- <AU00248594>
著者標目 Fuchs, H. (Harald) <AU00290586>
著者標目 Hosaka, Sumio <AU00290587>
分類標目 LCC:TA417.23
分類標目 DC22:620.1/1299
件名標目等 Materials -- Microscopy
件名標目等 Scanning probe microscopy
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