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Sampling, wavelets, and tomography

John J. Benedetto, Ahmed I. Zayed, editors. -- Birkhäuser, c2004. -- (Applied and numerical harmonic analysis / series editor, John J. Benedetto). <BY03134449>
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John J. Benedetto, Ahmed I. Zayed, editors. -- Birkhäuser, c2004. -- (Applied and numerical harmonic analysis / series editor, John J. Benedetto). <BY03134449>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 配架場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 三田４Ｆ図書 517:1547 0003605508 0件
No. 0001
巻号
配架場所 三田４Ｆ図書
請求記号 517:1547
資料ID 0003605508
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Sampling, wavelets, and tomography / John J. Benedetto, Ahmed I. Zayed, editors
出版事項 Boston : Birkhäuser , c2004
形態 xxi, 344 p. : ill. ; 25 cm
シリーズ名等 Applied and numerical harmonic analysis / series editor, John J. Benedetto <BY03046002>//a
巻号情報
ISBN 0817643044
注記 Includes bibliographical references and index
NCID BA65445334
本文言語 英語
著者標目 Benedetto, John <AU00067204>
著者標目 Zayed, Ahmed I. <AU00247329>
分類標目 LCC:QA403
分類標目 DC22:515/.2433
件名標目等 Harmonic analysis
件名標目等 Wavelets (Mathematics)
件名標目等 Fourier analysis
件名標目等 Sampling (Statistics)
件名標目等 Tomography
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