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表面分析:SIMS : 二次イオン質量分析法の基礎と応用

D.ブリッグス, M.P.シーア編 : 志水隆一, 二瓶好正監訳 : 新SIMS研究会訳. -- アグネ承風社, 2003.7. <BW03098880>
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表面分析:SIMS : 二次イオン質量分析法の基礎と応用

D.ブリッグス, M.P.シーア編 : 志水隆一, 二瓶好正監訳 : 新SIMS研究会訳. -- アグネ承風社, 2003.7. <BW03098880>
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No. 巻号 配架場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 三田４Ｆ図書 539.2:242 0072016348 0件
No. 0001
巻号
配架場所 三田４Ｆ図書
請求記号 539.2:242
資料ID 0072016348
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 表面分析:SIMS : 二次イオン質量分析法の基礎と応用 / D.ブリッグス, M.P.シーア編 : 志水隆一, 二瓶好正監訳 : 新SIMS研究会訳
ヒョウメン ブンセキ SIMS : ニジ イオン シツリョウ ブンセキホウ ノ キソ ト オウヨウ
出版事項 東京 : アグネ承風社 , 2003.7
形態 xix, 429p ; 21cm
巻号情報
ISBN 4900508101
その他の標題 原タイトル:Practical surface analysis. Volume2: Ion and neutral spectroscopy
注記 Practical surface analysis.Volume2:Ion and neutral spectroscopy 原著第2版の抄訳
NCID BA62889819
本文言語 日本語
著者標目 Briggs, D. <AU00236408>
著者標目 Seah, M. P. <AU00236409>
著者標目 志水, 隆一||シミズ, リュウイチ <AU00236410>
著者標目 二瓶, 好正(1940-)||ニヘイ, ヨシマサ <AU00236352>
著者標目 新SIMS研究会
シン シムス ケンキュウカイ <>
分類標目 物性物理学 NDC8:428.4
分類標目 物性物理学 NDC9:428.4
件名標目等 表面(工学上)||ヒョウメン(コウガクジョウ)
件名標目等 イオンビーム||イオンビーム
件名標目等 質量分析||シツリョウブンセキ
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