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電子顕微鏡研究者のためのFIB・イオンミリング技法Q&A : ナノテクノロジーの推進役

平坂雅男, 朝倉健太郎共編. -- アグネ承風社, 2002.9. <BW03045637>
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電子顕微鏡研究者のためのFIB・イオンミリング技法Q&A : ナノテクノロジーの推進役

平坂雅男, 朝倉健太郎共編. -- アグネ承風社, 2002.9. <BW03045637>
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No. 巻号 配架場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 三田４Ｆ図書 570.7:41 0071815948 0件
No. 0001
巻号
配架場所 三田４Ｆ図書
請求記号 570.7:41
資料ID 0071815948
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 電子顕微鏡研究者のためのFIB・イオンミリング技法Q&A : ナノテクノロジーの推進役 / 平坂雅男, 朝倉健太郎共編
デンシ ケンビキョウ ケンキュウシャ ノ タメ ノ FIB・イオンミリング ギホウ Q&A : ナノ テクノロジー ノ スイシンヤク
出版事項 東京 : アグネ承風社 , 2002.9
形態 x, 208p ; 26cm
巻号情報
ISBN 4900508748
その他の標題 異なりアクセスタイトル:FIB・イオンミリング技法Q&A : 電子顕微鏡研究者のための
FIB・イオン ミリング ギホウ キュウ アンド エー : デンシ ケンビキョウ ケンキュウシャ ノ タメ ノ
NCID BA58824376
本文言語 日本語
著者標目 平坂, 雅男
ヒラサカ, マサオ <>
著者標目 朝倉, 健太郎(1946-)||アサクラ, ケンタロウ <AU00215682>
件名標目等 非破壊検査||ヒハカイケンサ
件名標目等 電子顕微鏡||デンシケンビキョウ
件名標目等 イオンビーム||イオンビーム
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