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Monte Carlo modeling for electron microscopy and microanalysis

David C. Joy. -- Oxford University Press, 1995. -- (Oxford series in optical and imaging sciences ; 9). <BY00068895>
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David C. Joy. -- Oxford University Press, 1995. -- (Oxford series in optical and imaging sciences ; 9). <BY00068895>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 配架場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 上ケ原ＢＭ図書 380.1:2945:285 0001980762 0件
No. 0001
巻号
配架場所 上ケ原ＢＭ図書
請求記号 380.1:2945:285
資料ID 0001980762
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Monte Carlo modeling for electron microscopy and microanalysis / David C. Joy
出版事項 New York : Oxford University Press , 1995
形態 viii, 216 p. ; 24 cm
シリーズ名等 Oxford series in optical and imaging sciences <BY02010600> 9//a
巻号情報
ISBN 0195088743
注記 Includes bibliographical references
NCID BA25524402
本文言語 英語
著者標目 *Joy, David C., 1943- <AU00036098>
分類標目 LCC:QH212.E4
分類標目 DC20:502/.8/25
件名標目等 Electron microscopy -- Computer simulation
件名標目等 Electron probe microanalysis -- Computer simulation
件名標目等 Monte Carlo method
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