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Determining nanoscale physical properties of materials by microscopy and spectroscopy

editors Mehmet Sarikaya, H. Kumar Wickramasinghe, Michael Isaacson. -- Materials Research Society], 1994. -- (Materials Research Society symposium proceedings ; v. 332). <BY00064755>
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Determining nanoscale physical properties of materials by microscopy and spectroscopy

editors Mehmet Sarikaya, H. Kumar Wickramasinghe, Michael Isaacson. -- Materials Research Society], 1994. -- (Materials Research Society symposium proceedings ; v. 332). <BY00064755>
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No. 巻号 配架場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 三田４Ｆ集密図書 620.1:179 0001569490 0件
No. 0001
巻号
配架場所 三田４Ｆ集密図書
請求記号 620.1:179
資料ID 0001569490
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Determining nanoscale physical properties of materials by microscopy and spectroscopy / editors Mehmet Sarikaya, H. Kumar Wickramasinghe, Michael Isaacson
出版事項 [Pittsburgh, Pa. : Materials Research Society] , 1994
形態 xiv, 622 p. : ill ; 24 cm
シリーズ名等 Materials Research Society symposium proceedings <BY02000029> v. 332//a
巻号情報
ISBN 1558992316
注記 Includes bibliographical references and index
注記 "Symposium held November 29-December 3, 1993, Boston, Massachusetts, U.S.A."
NCID BA2400346X
著者標目 Sarikaya, Mehmet <AU00147567>
著者標目 Wickramasinghe, H. Kumar <AU00125987>
著者標目 Isaacson, Michael (Michael Saul) <AU00147568>
分類標目 LCC:Q176.8.N35
分類標目 DC20:620.1/1299/0287
件名標目等 Nanostructures -- Analysis -- Congresses
件名標目等 Microscopy -- Technique -- Congresses
件名標目等 Spectrum analysis -- Congresses
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