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Accelerated testing : statistical models, test plans and data analysis

Wayne Nelson. -- Wiley, c1990. -- (Wiley series in probability and mathematical statistics ; Applied probability and statisti). <BY00029265>
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Accelerated testing : statistical models, test plans and data analysis

Wayne Nelson. -- Wiley, c1990. -- (Wiley series in probability and mathematical statistics ; Applied probability and statisti). <BY00029265>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 配架場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 上ケ原２Ｆ図書 311:951 0000457176 0件
No. 0001
巻号
配架場所 上ケ原２Ｆ図書
請求記号 311:951
資料ID 0000457176
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Accelerated testing : statistical models, test plans and data analysis / Wayne Nelson
出版事項 New York : Wiley , c1990
形態 xiv, 601 p. : ill. ; 25 cm
シリーズ名等 Wiley series in probability and mathematical statistics <BY02000044> Applied probability and statisti//a
巻号情報
ISBN 0471522775
注記 "A Wiley-Interscience publication."
注記 Includes bibliographical references (p. 561-577)
NCID BA10134812
本文言語 英語
著者標目 *Nelson, Wayne, 1936- <AU00071378>
分類標目 LCC:QA276
分類標目 DC20:519.5
件名標目等 Failure time data analysis
件名標目等 Reliability (Engineering) -- Statistical methods
件名標目等 Accelerated life testing -- Statistical methods
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