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New horizons in testing : latent trait test theory and computerized adaptive testing

edited by David J. Weiss ; contributors, R. Darrell Bock ... [et al.]. -- Academic Press, 1983. <BY00003063>
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New horizons in testing : latent trait test theory and computerized adaptive testing

edited by David J. Weiss ; contributors, R. Darrell Bock ... [et al.]. -- Academic Press, 1983. <BY00003063>
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所蔵一覧 1件～2件（全2件）

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No. 巻号 配架場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 法学部資料室 151:195 0000862201 0件
0002 上ケ原Ｂ１図書 151:195 0003169067 0件
No. 0001
巻号
配架場所 法学部資料室
請求記号 151:195
資料ID 0000862201
状態
返却予定日
予約 0件
No. 0002
巻号
配架場所 上ケ原Ｂ１図書
請求記号 151:195
資料ID 0003169067
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 New horizons in testing : latent trait test theory and computerized adaptive testing / edited by David J. Weiss ; contributors, R. Darrell Bock ... [et al.]
出版事項 New York : Academic Press , 1983
形態 xvii, 345 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0127427805
注記 Derived from the 1979 Computerized Adaptive Testing Conference held at Wayzata, Minn., sponsored by the U.S. Office of Naval Research, et al
注記 Includes bibliographies and indexes
NCID BA00680204
本文言語 英語
著者標目 Weiss, David J. <AU00039334>
著者標目 Bock, R. Darrell <AU00039335>
著者標目 Computerized Adaptive Testing Conference <AU00039336> Wayzata, Minn., 1979
著者標目 United States. Office of Naval Research <AU00020033>
分類標目 LCC:BF176
分類標目 DC19:153.9/3
件名標目等 Psychological tests -- Congresses
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