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Fundamentals of surface and thin film analysis

Leonard C. Feldman, James W. Mayer. -- North-Holland, c1986. <BY00000878>
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Fundamentals of surface and thin film analysis

Leonard C. Feldman, James W. Mayer. -- North-Holland, c1986. <BY00000878>
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No. 巻号 配架場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 三田４Ｆ図書 539:195 0000693226 0件
No. 0001
巻号
配架場所 三田４Ｆ図書
請求記号 539:195
資料ID 0000693226
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Fundamentals of surface and thin film analysis / Leonard C. Feldman, James W. Mayer
出版事項 New York : North-Holland : Elsevier Science Pub. , c1986
形態 xviii, 352 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0444009892
注記 Includes bibliographies and index
NCID BA0028903X
本文言語 英語
著者標目 *Feldman, Leonard C. <AU00018535>
著者標目 Mayer, James W., 1930- <AU00018536>
分類標目 LCC:QD506
分類標目 DC19:530.4/1
件名標目等 Surfaces (Technology) -- Analysis
件名標目等 Thin films -- Analysis
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